Klassische optische Mikroskopie braucht seit ehedem präzise Positionierung. Moderne hochauflösende Sensoren, welche in nicht-optischen Mikroskopen (STM, AFM, SEM, usw.) zum Einsatz kommen, erfordern Auflösungen bis hinunter zu Nanometern und darunter. nanoFaktur liefert Nano-Positionierungen für Objektive, hochauflösende Abtastsensoren und für Proben. Sämliche 6 Freiheitsgrade können abgedeckt werden.