Klassische optische Mikroskopie braucht seit ehedem präzise Positionierung. Moderne hochauflösende Sensoren, welche in nicht-optischen Mikroskopen (STM, AFM, SEM, usw.) zum Einsatz kommen, erfordern Auflösungen bis hinunter zu Nanometern und darunter. nanoFaktur liefert Nano-Positionierungen für Objektive, hochauflösende Abtastsensoren und für Proben. Sämliche 6 Freiheitsgrade können abgedeckt werden.
- 150 µm
- Anwenderstandard
- kompakt
- Gewinde wählbar
- 200 µm
- Gewinde wählbar
- freier Zugang
- 100/300/600 µm
- kompakt
- Gewinde wählbar
- 100/400/800 µm
- Geradführung
- kap. oder DMS-Sensoren
- Gewinde wählbar
- 1000 µm
- kompakt
- Gewinde wählbar
- Objektivadapter
- Alle Standardgewinde
- metrisch, zollmaßig, Hybrid
- Z Probentische
- 150/600 µm
- Probenhalter optional
- Z Einbautische
- 120/250/500 µm
- Probenhalter optional