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Mikroskopie

Klassische optische Mikroskopie braucht seit ehedem präzise Positionierung. Moderne hochauflösende Sensoren, welche in nicht-optischen Mikroskopen (STM, AFM, SEM, usw.) zum Einsatz kommen, erfordern Auflösungen bis hinunter zu Nanometern und darunter. nanoFaktur liefert Nano-Positionierungen für Objektive, hochauflösende Abtastsensoren und für Proben. Sämliche 6 Freiheitsgrade können abgedeckt werden.

Quick Focus

  • 150 µm
  • Anwenderstandard
  • kompakt
  • Gewinde wählbar

Slim Focus

  • 200 µm
  • Gewinde wählbar
  • freier Zugang

  • 100/300/600 µm
  • kompakt
  • Gewinde wählbar

  • 1000 µm
  • kompakt
  • Gewinde wählbar

  • Objektivadapter
  • Alle Standardgewinde
  • metrisch, zollmaßig, Hybrid

Piezo Z-Stages for Microscopy

  • Z Probentische
  • 120/450/650 µm
  • Probenhalter optional

  • Z Einbautische
  • 120/250/500 µm
  • Probenhalter optional

  Anfragen  

Produktverzeichnis

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  E-Mail: info@nanoFaktur.com